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激光測量設(shè)備

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高性價比干涉式激光尺
高性價比干涉式激光尺摒棄了傳統(tǒng)激光干涉儀的分立光學(xué)器件結(jié)構(gòu)，將激光器、調(diào)制器、光電探測器和濾波器等眾多光學(xué)元件集成至單一光學(xué)芯片上，并與激光二極管、探測器陣列和光學(xué)透鏡結(jié)合，形成小型化的激光傳感模組。

型號：廠商性質(zhì)：代理商
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H9/H9M 白光干涉表面輪廓儀
Heliotis H9/H9M 均為工業(yè)級白光干涉（WLI）3D 表面輪廓儀，基于低相干寬帶光在零光程差附近形成高對比度條紋，通過 Z 軸掃描與像素級相干峰 / 相位解包裹重構(gòu) 3D 形貌，實現(xiàn)非接觸、納米級精度測量。H9/H9M 白光干涉表面輪廓儀

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TopMap Micro.View 白光干涉儀（3D形貌儀）
Polytec GmbH提供完整的光學(xué)表面計量解決方案，用于工程表面質(zhì)量檢測和形狀評估 - 無論是數(shù)控加工精密零件的平面度或臺階高度、光滑光學(xué)元件的翹曲和形狀，還是紋理、光潔度或 MEMS 和微結(jié)構(gòu)分析。TopMap Micro.View 白光干涉儀（3D形貌儀）

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TopMap Metro.Lab 白光干涉儀（3D形貌儀）
Polytec旗下的 TopMap Metro.Lab，是一款高精度白光干涉儀（相干掃描干涉儀），以其大垂直測量范圍與納米級分辨率脫穎而出。這一特性，使得 Metro.Lab 形貌測量系統(tǒng)在針對大面積表面及結(jié)構(gòu)的平面度、臺階高度和平行度進行非接觸式測量時表現(xiàn)好，哪怕面對柔軟嬌貴、極易受損的材料，也能精準(zhǔn)探測，毫無壓力。TopMap Metro.Lab 白光干涉儀（3D形貌儀）

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SIOS雙光束激光干涉儀SP 5000 DS
SIOS雙光束激光干涉儀SP 5000 DS用于需要同時獲取運動角度和長度信息的測量任務(wù)。該干涉儀的測量原理基于 SP 5000 NG 測量設(shè)備。兩個測量激光束使用同一頻率的共用激光器的光。兩個測量光束之間的間距經(jīng)過高精度校準(zhǔn)。測量光束之間的平行度至關(guān)重要。

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VFI 光纖端面干涉儀
VFI 光纖端面干涉儀可測量大多數(shù)標(biāo)準(zhǔn)和特種光纖，包括保偏光纖和空芯光纖。VFI 光纖端面干涉儀在研究、生產(chǎn)和質(zhì)量保證領(lǐng)域已得到反復(fù)驗證。

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雙頻激光干涉儀
雙頻激光干涉儀HPI-3D是市場上的高性能激光干涉儀之一。作為雙頻外差系統(tǒng)，它的測量精度和分辨率為用戶提供了大量新的選擇。非常容易使用，它既可以應(yīng)用于研究實驗室，也可以用于機器幾何測量。精確的機器校準(zhǔn)對于提供高質(zhì)量的產(chǎn)品至關(guān)重要。使用我們的系統(tǒng)，您可以快速、輕松地進行精確的校準(zhǔn)。基本配置能夠進行線性位移、振動、速度和定位的測量。

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直接激光干涉圖形加工器
直接激光干涉圖形加工器可以利用脈沖激光簡便地、高速地在大范圍區(qū)域形成周期性幾何形狀從而直接燒蝕材料表面。

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激光剪切散斑干涉系統(tǒng)——NDT無損檢測
激光剪切散斑干涉系統(tǒng)——NDT無損檢測是所有的光學(xué)模組和激光器集成在一個手持式，耐用和輕便的機殼中，接通電源，通過USB連接到電腦，就可以開始檢測了。

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光纖法布里-珀luo干涉儀
光纖法布里-珀luo干涉儀系列產(chǎn)品基于具有平滑、均勻間隔傳輸峰的固定干涉儀設(shè)計。FFP 的設(shè)計簡潔優(yōu)雅的關(guān)鍵在于其無透鏡全光纖結(jié)構(gòu)。沒有準(zhǔn)直光學(xué)器件或透鏡，消除了其他法布里-珀羅元件技術(shù)的缺陷，包括未對準(zhǔn)、環(huán)境敏感性和外來模式。FFP 波器遵循 Airy 函數(shù)。工程師可以將其設(shè)計到 OEM 系統(tǒng)中，因為他們知道它將提供非常接近理論數(shù)學(xué)模型的結(jié)果。

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皮米級絕對距離測量干涉儀
皮米級絕對距離測量干涉儀通過將可調(diào)激光器的頻率鎖定到F-P干涉儀的的諧振頻率上，將干涉儀的位移測量轉(zhuǎn)換為頻率變化的測量。當(dāng)F-P腔長在變化時，其諧振峰的頻率也在發(fā)生變化，通過測量初始腔長，初始頻率和頻率變化，就可實現(xiàn)測量腔長。

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多波長動態(tài)干涉儀
Kaleo MultiWAVE多波長動態(tài)干涉儀同時可提供媲美Fizeau干涉儀測量精度，及動態(tài)干涉儀的抗震性能。

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