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臺(tái)式X射線熒光光譜儀

XRF射線裝置利用X射線熒光原理測(cè)量鍍層和成分。樣品被來(lái)自射線管的射線轟擊，產(chǎn)生熒光。通過(guò)熒光的能量我們可以知道樣品中存在哪些元素，通過(guò)XRF的強(qiáng)度我們可以分析獲得樣品的厚度和每個(gè)元素的成分。

能量分辨率、檢測(cè)效率和魯棒性是與檢測(cè)器相關(guān)的三個(gè)因素。能量分辨率是分離具有小能量差的兩個(gè)光子的能力。檢測(cè)效率是指 X 射線記錄的效率。我們提供的 XRF 系統(tǒng)使用硅漂移探測(cè)器的固態(tài)探測(cè)器技術(shù)。

當(dāng)樣品的熒光被收集，配套應(yīng)用軟件會(huì)將測(cè)量的X射線強(qiáng)度轉(zhuǎn)為厚度和成分。軟件包通常包含兩部分，波譜處理和定量分析。

臺(tái)式X射線熒光光譜儀智能化設(shè)計(jì)，強(qiáng)大的分析：

幾秒內(nèi)完成金屬鍍層無(wú)損分析

成分分析可達(dá)25種元素

同時(shí)測(cè)量多達(dá)五個(gè)涂層，所有涂層都可以是合金

基礎(chǔ)參數(shù)法 - 半定量分析厚度與成分

輕松設(shè)置和操作 - 通過(guò)USB完成連接

簡(jiǎn)潔的前控制面板

占地面積小，節(jié)約空間

輕量化設(shè)計(jì)，便于移動(dòng)

臺(tái)式X射線熒光光譜儀直觀的用戶(hù)界面：

提供分析靈活性，同時(shí)減少用戶(hù)出錯(cuò)機(jī)會(huì)

專(zhuān)業(yè)的 Archer 軟件

直觀的圖標(biāo)引導(dǎo)用戶(hù)界面

強(qiáng)大的定性/無(wú)標(biāo)樣分析功能

功能強(qiáng)大的標(biāo)準(zhǔn)片庫(kù)

可定制快捷鍵，方便操作

靈活的數(shù)據(jù)顯示和導(dǎo)出

強(qiáng)大的報(bào)告編輯生成器

臺(tái)式X射線熒光光譜儀 性能，強(qiáng)大，便利：

緊密耦合的幾何設(shè)計(jì)極大提高測(cè)量效率和精度

經(jīng)驗(yàn)證的固態(tài)探測(cè)器可提供更高的分辨率，穩(wěn)定性和靈敏度

儀器預(yù)熱時(shí)間短，X射線管燈絲壽命長(zhǎng)

可實(shí)現(xiàn)銀、錫的L線薄膜分析

多位置一次濾波器與多規(guī)格準(zhǔn)直器可供選擇

靈活的焦距為復(fù)雜形狀或厚度較大的樣品提供測(cè)量便利

模塊化組件設(shè)計(jì)，維護(hù)簡(jiǎn)單

臺(tái)式X射線熒光光譜儀