光電流成像光譜系統(tǒng)

    Nanobase的光電流成像系統(tǒng)XperRam Photocurrent Mapping system 利用了顯微成像掃描技術(shù)，對(duì)樣品表面做一個(gè)快速掃描。產(chǎn)生的光電流信號(hào)通過探針引到電流源表，再顯示在軟件界面，做成成像圖顯示樣品表面電流分布。

      光電流成像光譜系統(tǒng)Photocurrent Mapping System 又稱為掃描光電流顯微成像系統(tǒng)，用來檢測(cè)材料光電流強(qiáng)度分布的設(shè)備，主要用來測(cè)量光電材料的光電響應(yīng)信號(hào)和表征材料的光電特征。XperRam Photocurrent Mapping system 光電流成像系統(tǒng)將光電材料對(duì)于光信號(hào)響應(yīng)的不均勻性以可視化和量化的方式顯示出來。該系統(tǒng)可以研究光電探測(cè)器的量子效率，器件的電阻分布特征，研究太陽能電池光生電流的不均勻性，研究器件吸收和電荷生成的微區(qū)特性，以及光電材料界面，半導(dǎo)體結(jié)區(qū)的品質(zhì)分布等。

整個(gè)系統(tǒng)的個(gè)構(gòu)成如下圖，包含光源（激光器或者連續(xù)光源），顯微鏡，激光掃描振鏡，數(shù)字源表，探針臺(tái)和計(jì)算機(jī)軟件等。激光通過掃描振鏡，擴(kuò)束鏡，經(jīng)過顯微鏡聚焦到樣品表面，激光激發(fā)產(chǎn)生光電效應(yīng)（電流），電流信號(hào)通過探針引出至電流源表，再讀出至電腦軟件，掃描時(shí)，振鏡是通過偏振光控制器控制，激光的光斑再樣品的XY方向上掃描移動(dòng)，軟件記錄每一個(gè)激光聚焦光斑的位置和其對(duì)應(yīng)的電流值，在軟件的一側(cè)，同步描繪出光電流成像圖，顯示了樣品的電流分布。

功能描述

l  光電流成像（Photocurrent Measurement and Imaging ）

                          光電流系統(tǒng)探針臺(tái)                                                                 三星光電院定制的光電流系統(tǒng)

光電流成像圖和電流計(jì)數(shù)值

                      簡(jiǎn)易光電流平臺(tái)（Side plate）                   Positioner                      Holder                                    探針

產(chǎn)品特點(diǎn)

Ø  超快掃描成像（大于1000譜/S）

Ø  超緊湊結(jié)構(gòu)（光電流掃描成像和顯微鏡一體式設(shè)計(jì)）

Ø  成本低（客戶僅需要在原來的探針臺(tái)或者拉曼設(shè)備上做改造就可以，不需要額外購(gòu)買平移臺(tái)，這是振鏡掃描的優(yōu)勢(shì)所在）

Ø  可視化和人性化軟件（定制研發(fā)了電流源表輸出和成像掃描視覺窗口，客戶在一個(gè)界面實(shí)現(xiàn)光電流數(shù)據(jù)和成像mapping的對(duì)比比較方便）

Ø  可擴(kuò)展增加其它波長(zhǎng)的激光器，增加拉曼光譜，熒光光譜成像系統(tǒng)等

Ø  可增加高低溫恒溫器，鎖相放大器，斬波器等

基本參數(shù)

探針臺(tái)參數(shù)：

應(yīng)用領(lǐng)域

石墨烯，二維材料，半導(dǎo)體工業(yè)，結(jié)晶度分析，太陽能電池，儲(chǔ)能材料，探測(cè)器光電性能檢測(cè)，晶圓體分析，探測(cè)器檢測(cè)，器件吸收和電荷生成的微區(qū)特性。

相關(guān)文獻(xiàn)

• 石墨烯通過嵌段共聚物的納米化實(shí)現(xiàn)了等離子體輔助設(shè)計(jì)的多共振光檢測(cè)

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• 石墨烯的離子-凝膠介質(zhì)調(diào)制石墨烯的Dirac點(diǎn)電壓及其應(yīng)用