| 品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
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| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,生物產(chǎn)業(yè),電子/電池,航空航天,綜合 |
白光干涉儀
Xper WLI 是一款用于對各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級測量的檢測儀器。它是以白光干涉技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進(jìn)行非接觸式掃描并建立表面3D圖像，通過系統(tǒng)軟件對器件表面3D圖像進(jìn)行數(shù)據(jù)處理與分析，并獲取反映器件表面質(zhì)量的2D、3D參數(shù)，從而實現(xiàn)器件表面形貌3D測量的光學(xué)檢測儀器。
優(yōu)勢：
價格優(yōu)勢：市場上性價比的白光干涉儀。
簡單易用：只需將樣品放置于樣品臺上，即可直接進(jìn)行測量；
可以測量非接觸式非平坦樣品：由于光學(xué)輪廓測量法是一種非接觸式技術(shù)，可以輕松測量彎曲和其他非平面表面。還輕松地測量曲面的表面光潔度，紋理和粗糙度。除此之外，作為一種非接觸式方法光學(xué)輪廓儀不會像探針式輪廓儀那樣損壞柔軟的薄膜。
無需更換耗材：只需要一個LED光源，無需其他配件更換；
可視化3D功能：Xper WLI輪廓儀具有強大的處理軟件，軟件除包括表面粗糙度，形狀和臺階高度的測量外，還可以任意角度移動樣品量測三維圖形，多角度分析樣品圖像。
應(yīng)用領(lǐng)域：
納米尺度的厚度和輪廓檢測
WLI和PSI模式轉(zhuǎn)換
工業(yè)應(yīng)用：樣品和輪廓檢測
樣品類型：半導(dǎo)體晶圓，納米器件，生物材料，MEMS:微電子機械系統(tǒng)，lED發(fā)光二極管
規(guī)格
原理：白光干涉原理
用途：表面三維剖面測量，表面粗糙度測量
Z軸分辨率：1.75nm
CCD 分辨率：2464*2056
掃描范圍：30 μm
物鏡：10X, 20X, 50X, 100X
照明：LED
PSI模式濾光片組件：532，633nm（可見光范圍：400-750nm）
軟件功能：自動實驗條件設(shè)置
后期處理：平滑處理/ z軸控制因子設(shè)置/偏移控制，X / Y軸輪廓提取
成像案例：
半導(dǎo)體器件
牙齒表面分析
上海市徐匯區(qū)虹梅路2007號6號樓3樓
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