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激光測量設備

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雙向散射分布函數測量儀
雙向散射分布函數測量儀：實時測量雙向反射率(BRDF)或透光率(BTDF)分布函數、半球總反射率或透光率、功率譜密度(PSD)、表面粗糙度和角分辨散射。

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ALIO定制化控制運動方案
ALIO定制化控制運動方案可為原始設備制造商客戶帶來巨大價值。ALIO 專注于納米精度應用，可以定制其核心解決方案以滿足確切的客戶需求，推動新的創新解決方案的發展定制化控制運動方案。

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直接激光干涉圖形加工器
直接激光干涉圖形加工器可以利用脈沖激光簡便地、高速地在大范圍區域形成周期性幾何形狀從而直接燒蝕材料表面。

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激光剪切散斑干涉系統——NDT無損檢測
激光剪切散斑干涉系統——NDT無損檢測是所有的光學模組和激光器集成在一個手持式，耐用和輕便的機殼中，接通電源，通過USB連接到電腦，就可以開始檢測了。

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Matesy-STT系列軸扭紋光學測量儀
軸扭紋光學測量儀是用于生產制造現場快速判定軸類零件有無扭紋測量儀器。通過相干照度在周期性微結構上生成圓錐形衍射圖樣，對衍射線圖樣進行目測或數顯評估。

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Oosight成像系統——紡錘體觀察儀
Oosight成像系統——紡錘體觀察儀：Oosight成像系統采用核心的LC-PolScope™技術，能夠提供一種特別的能力，可以在不使用外源性染料或標簽的情況下，提供紡軸裝置和三層透明帶的高對比度定量圖像。

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在線方塊電阻測試儀
EddyCus TF inline在線方塊電阻測試儀可以測量薄層的性能，如金屬層厚度，薄層電阻，輻射系數，殘余水分或在各種基材上的非接觸克重。相關基材有玻璃、箔、紙、晶圓片、塑料或陶瓷。通過常駐測量或觸發事件進行監測，以在快速移動的涂層過程中獲得等距離的結果。檢測解決方案可以在大氣或真空條件下實施。基于電渦流技術的檢測過程高采樣率更高。可以使用客戶的軟件為過程控制系統提供測量結果。

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非接觸式薄層電阻測試儀
非接觸式薄層電阻測試儀：昊量光電新推出用于導電薄膜和薄金屬層方塊電阻測量的非接觸式方阻測量儀EddyCus TF Series，這款非接觸式方塊電阻測量儀可以非接觸式實時測量，對導電薄膜和金屬方塊電阻精確測量，表征已被隱藏和封裝的導電層，并把測量數據保存和導出。

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聚焦光束分析儀 - CinSpot AUT-1204系列
聚焦光束分析儀 - CinSpot AUT-1204系列：聚焦光束分析儀 CinSpot 系列產品來自德國激光光束分析儀生產廠家 Cinogy 公司，主要是針對聚焦后的激光光束的測量和分析的測量設備，覆蓋 UV~NIR 波段，可測量的焦點光斑尺寸為Min. 3um。主要用于測量焦點光斑尺寸、焦點位置、M^2、瑞利長度、激光功率等等。

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光纖法布里-珀luo干涉儀
光纖法布里-珀luo干涉儀系列產品基于具有平滑、均勻間隔傳輸峰的固定干涉儀設計。FFP 的設計簡潔優雅的關鍵在于其無透鏡全光纖結構。沒有準直光學器件或透鏡，消除了其他法布里-珀羅元件技術的缺陷，包括未對準、環境敏感性和外來模式。FFP 波器遵循 Airy 函數。工程師可以將其設計到 OEM 系統中，因為他們知道它將提供非常接近理論數學模型的結果。

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800nm二極管泵浦鈦寶石飛秒激光器
800nm二極管泵浦鈦寶石飛秒激光器：鈦寶石激光介質由于其具有極寬增益譜與發射譜的特性，在超短脈沖產生和波長調諧等方面具有極大的優勢。長期以來鈦寶石激光器使用價格昂貴的 532 nm 全固態激光器作為泵浦源，在一定程度上限制了其推廣和應用。高亮度、高功率藍-綠光激光二極管的問世，為低成本鈦寶石振蕩器的實現提供了新的可能。LD 具有結構緊湊、穩定性高、價格低廉等優勢。

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角分辨散射儀
昊量光電新推出用于準確測量材料散射特征的角分辨散射儀，為高質量光學產品的生產提供有力保障。這種測量儀能夠測量二維或三維雙向散射分布函數(BSDF)，包括雙向反射分布函數BRDF, 雙向透射分布函數BTDF,透射，反射，散射等。

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